武汉大学科研公共服务条件平台透射电子显微镜（JEM-F200）已经安装调试完毕，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！

一、功能特色

JEM-F200透射电镜搭载有场发射电子枪，能够达到更高的分辨率。自动化测角台，能够实现自动进出样品杆。配备有双探头超级能谱仪，能够实现快速高精度的EDS分析，搭配STEM模式，可以进行点，线，面的EDS Mapping分析。搭载有Gatan底插Oneview相机，能够拍摄更加清晰的高分辨图像。

二、基本参数

型号：JEM-F200

厂家：日本电子株式会社（JEOL）

电子枪类型：热场发射枪

加速电压：80 – 200 kV

TEM点分辨率：0.23 nm

TEM线分辨率：0.1 nm

STEM分辨率：0.16 nm

放大倍率：MAG模式2000–2M倍

Low MAG模式50–6,000倍

STEM模式100–150M倍

相机：Gatan Oneview相机

能谱：JED2300T超级双能谱仪（100 mm²双探头）

三、应用领域

透射电子显微镜已被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-F200因具有较高的分辨率，在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、样品元素分析等方面可以发挥出重要作用。

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地点：武汉大学尖端科技楼101C

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