武汉大学科研公共服务条件平台高分辨三维X射线显微镜已经安装调试完毕，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！

仪器型号： Xradia 515 Versa

厂家：德国 卡尔蔡司

仪器功能特色：

高分辨三维X射线显微镜(简称XRM)利用X射线穿透样品，探测器收集不同吸收信号，实现X射线全场成像，可以对材料内部结构进行无损测试，并进行三维重构和切片表征。应用范围包括：复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析与统计分布；增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测；生成三维网格模型用于数值模拟计算或3D打印；电池、芯片、热电材料的失效分析；纤维材料的取向分析；动植物组织学成像分析；材料拉伸或压缩断裂行为和加热试验的原位表征。

仪器主要参数：

1.光电耦合物镜探测器，物镜0.4X的最大三维视野50mm；物镜40X最高空间分辨率500nm。

2.X射线源最高工作电压160kV，最大功率10W。

3.最大可测样品尺寸φ300mm×450mm。

4.原位测试力值最大5KN，轴向位移最大10mm，轴向位移速度0.1mm/min -1mm/min。

5.原位拉伸试验台的温度范围﹣20℃ ~﹢160℃。

送样须知：

(1) 送样请至少提前1天，并说明样品材质、观测特征尺寸以及三维数据分析要求。

(2) 图像分辨率与样品材质和尺寸密切相关，送样前请阅读仪器公告送样须知或电话咨询检测老师。

预约请登录：http://facility.whu.edu.cn

地点：武汉大学工学部尖端科技楼103

联系人：张老师 15997416157